X射线镀层测厚仪 是一款功能强大的仪器，配上为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。同时可以分析30种以上元素，五层镀层。分析检出限可达2ppm，*薄可测试0.005μm。应用领域：

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.



金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。



主要用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

分析含量一般为ppm到99.9% 。镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）任意多个可选择的分析和识别模型。相互立的基体效应校正模型。多变量非线性回收程序，多次测量重复性可达0.1%

适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。 

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。<span "="" style="font-size: 9pt;"> 

Si-Pin探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机