按键寿命测试机NWT1001V10

NWT1001V10型测试机是我司自主研发的新一代测试机，在行业处于地位，它采用的电磁按压技术，测试柔和安静，，避免砝码机在运动中产生大的惯性冲击力对测试样品的附加破坏，成为我国按键测试领域更新换代的。大记录数据为两千万次，步进电机模拟手指按压动作，实时检测开关状态，智能判断开关按键失效。停机后会自动保留上次测试数据，重新开机后继续从上次数据开始计数。本机可对PDA、薄膜按键、硅胶按键、手机、计算器、记事本、对讲机等键盘及各种按钮、开关等做寿命（疲劳）测试,也适用于硅橡胶类按键作疲劳测试。本机功耗低,噪音小,测试速度快,而且价格低廉,方便使用。

可加装大电流测试模块，测试30A以下的大电流开关；还可加装通讯模块与其他设备联机测试。