DERANVMeSSD

DERA NVMe控制器是DERA NVMe SSD产品的核心部件，TAI是代的DERA NVMe控制器。DERA TAI前端支持PCIe Gen3 x8或x4接口，内建率DMA数据传输引擎，后端集成多个NAND接口通道和高强度ECC硬件编解码单元。闪存转换层（FTL）算法与控制器紧密协同设计，综合运用多种技术实现企业级的数据存储可靠性，并充分发挥NAND闪存的高速存取特点，为应用系统提供高可靠、低延时、高吞吐量的标准块存储服务。





DERA TAI控制器结构框图



DERA NVMe SSD产品



DERA TAI控制器为每个NAND通道都内建了立的HSHP ECC编解码硬件单元，ECC编解码能以很短的附加延迟完成。可将NAND接口层面的UBER（不可纠正误码率）控制在1扇区/1E17bit的水平之下。DERA TAI控制器还实现了完整的数据通道ECC及CRC保护机制。



在此基础上，DERA采用与TAI控制器协同设计的管理固件，综合实现了数据端到端保护、自适应冗余组（Adaptive Redundant Group）数据保护、NAND全生命周期管理、意外掉电保护等的数据完整性保护策略，形成了高可靠、的D5000 NVMe SSD产品系列。



DERA TAI控制器提供原生支持PCIe Gen3 x8。在主机通道资源充足的情况下，能够更充分利用通道带宽资源，提供比x4更好的性能。

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测试项目包括：



1.性能测试 （工具FIO）





2.随机写性能曲线



测试方法：先对全盘进行一次顺序写覆盖，然后进行2小时的随机写并实时记录IOPS

总体而言，抖动控制的不错，测试的时间还是不够长，以后有机会再测久一些





3.高温读写压力测试



测试方法：



在环境温度50°下跑读写混合测试

Job1：RW=write, BS=128K，IOQ=128, Verify enable

Job2: RW=Randw，BS=4K，IOQ=128, Verify enable



测试结果：通过48小时





4.Data Retention 测试



测试方法：复制全盘数据，在spec规定低温度下静止24小时后比较数据

测试结果：通过



5.JEDEC Enterprise Workload测试



测试方法：使用ULink DriveMaster的脚本进行测试

测试结果：通过 （读取239GB，写入239GB，每GB功耗 334J）



注：由于DERA的盘容量比较大，在使用DriveMaster进行测试时，需要配置Ulink的转接卡的部分Jumper，使其采用外部供电模式，否则无法顺利测试。（感谢DERA和Ulink双方工程师的支持）





6.掉电测试



测试方法：使用ULink DriveMaster的脚本进行测试

测试结果：300 cycle的测试 通过（Queue command 和 Non-Queue Command各 150 次）



总结：



通过以上性能测试、高温测试、可靠性测试这样三个维度的实测可以得到以下2个结论。



1. 此款SSD产品各项指标均达到行业内水准。

2.DERA自研固件配合自研控制器芯片使得该NVME SSD性能、各项指标平稳，设计非常体现功力。